高光譜成像光譜儀也稱高光譜成像儀，其根據(jù)成像系統(tǒng)和分光技術(shù)的不同，可以分為面陣列探測(cè)器加空間推掃型、線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型、光譜空間交叉掃描型和光譜掃描型等四種類型。本文對(duì)面陣列探測(cè)器加空間推掃型光譜儀做了介紹。

面陣列探測(cè)器加空間推掃型光譜儀原理：

在這類光譜儀中，前光學(xué)系統(tǒng)（反射鏡和物鏡）把一行地物目標(biāo)成像在狹縫上，與狹縫對(duì)應(yīng)的探測(cè)器陣列自掃描完成一維空間掃描，另一維由運(yùn)載平臺(tái)的運(yùn)動(dòng)完成，即由面陣器件的固體自掃描和飛行平臺(tái)向前運(yùn)動(dòng)完成二維空間掃描。另外，狹縫也是光譜儀的入射狹縫，光譜儀把入射狹縫上的地物像均勻地色散到焦平面探測(cè)器上，面陣探測(cè)器的另一維完成光譜掃描，即面陣器件的一維完成空間成像，另一維完成光譜的掃描，分光譜器件多數(shù)也是光柵和棱鏡。其工作原理如下圖所示。

面陣列探測(cè)器加空間推掃型光譜儀特點(diǎn)：

這類成像光譜儀的特點(diǎn)是：空間掃描由器件的固體自掃描完成，像元的凝視時(shí)間較長，這樣可以提高系統(tǒng)的靈敏度，或者提高系統(tǒng)的空間分辨率；在可見光波段，由于目前器件很成熟，集成程度也很高，光譜分辨力可以提高到1～2nm的水平；由于沒有光機(jī)掃描機(jī)構(gòu)，儀器的體積可以設(shè)計(jì)很小。

目前在可見光、近紅外波段，此類成像光譜儀很多，有的已經(jīng)達(dá)到商品化水平。其主要不足之處是：紅外波段由于器件的限制，短波紅外靈敏度還不理想，熱紅外暫時(shí)不可能；由于光學(xué)設(shè)計(jì)的困難，總視場(chǎng)一般較小。但是，隨著焦平面器件的進(jìn)一步發(fā)展和成熟，這類成像光譜儀所占的比例將會(huì)越來越多。為了克服線列陣型成像光譜儀對(duì)像元凝視時(shí)間少，而面陣推帚型成像光譜儀的總視場(chǎng)又不夠大的缺點(diǎn)，有時(shí)采用小面陣并掃型成像光譜儀。