高光譜圖像基本原理和無損檢測系統(tǒng)
發(fā)布時間:2023-05-31
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高光譜圖像在現(xiàn)代材料和物體的定量和定性分析中占有重要地位。關(guān)于這方面的研究也有很多,本文簡單介紹了高光譜圖像基本原理和無損檢測系統(tǒng)。
高光譜圖像在現(xiàn)代材料和物體的定量和定性分析中占有重要地位。關(guān)于這方面的研究也有很多,本文簡單介紹了高光譜圖像基本原理和無損檢測系統(tǒng)。
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高光譜圖像基本原理
高光譜圖像技術(shù)是由高光譜遙感成像技術(shù)發(fā)展起來的一項技術(shù)。高光譜圖像是在特定波長范圍內(nèi)由一系列波長處的光學圖像組成的三維圖像塊。圖為高光譜圖像三維數(shù)據(jù)塊的示意圖。圖1中,x和y表示二維平面像素信息坐標軸,第三維(入軸)是波長信息坐標軸。從中可以看出,高光譜圖像既具有某個特定波長入下的圖像信息,并且針對 xy平面內(nèi)某個特定像素,又具有不同波長下的光譜信息。
基于高光譜圖像的無損檢測系統(tǒng)
基于高光譜圖像的無損檢測系統(tǒng)主要包括硬件平臺(高光譜圖像的獲取)和軟件數(shù)據(jù)處理(高光譜圖像數(shù)據(jù)分析)兩部分。硬件平臺主要由光源、分光部件、CCD、圖像采集系統(tǒng)和計算機所組成。根據(jù)分光部件的不同,其硬件平臺又有2種不同的組建方式,即基于濾光片的高光譜圖像獲取系統(tǒng)和基于成像光譜儀的高光譜圖像獲取系統(tǒng)。
基于光譜儀的高光譜圖像系統(tǒng)采集得到的數(shù)據(jù)精度高,適合于實驗室階段尋找最適合表達檢測目標的特定波長,但其數(shù)據(jù)量超大,數(shù)據(jù)處理時間長,不適于在線檢測;而基于濾波片的高光譜圖像系統(tǒng)采集得到的數(shù)據(jù)量小,數(shù)據(jù)分析所需要的時間短,適合在線檢測,但是濾波片過少,其數(shù)據(jù)簡單,很難尋找到與檢測目標相應(yīng)的最佳特征波長。一般情況下,首先,在實驗室階段利用基于光譜儀的高光譜圖像系統(tǒng)尋找檢測目標的最優(yōu)波長;然后,根據(jù)最優(yōu)波長定做相應(yīng)的濾波片,設(shè)計基于濾波片的高光譜圖像系統(tǒng),以實現(xiàn)在線檢測。
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