空間分辨率是什么?
發(fā)布時(shí)間:2023-06-21
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光學(xué)顯微鏡的空間分辨率是經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)后能區(qū)分物上兩點(diǎn)之間的最小距離。
光學(xué)顯微鏡的空間分辨率是經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)后能區(qū)分物上兩點(diǎn)之間的最小距離。
這個(gè)距離在空間上依據(jù)所處平面的不同通常分為橫向分辨率(lateral resolution)及軸向分辨率(axial resolution),橫向分辨率指物面上可分辨的最小距離,軸向分辨率則指在垂直物面方向上可分辨的最小距離。以物面上理想點(diǎn)光源對(duì)應(yīng)像面的艾里斑為例,如果兩個(gè)物點(diǎn)彼此遠(yuǎn)離,很容易將它們分辨為單獨(dú)的對(duì)象。隨著兩個(gè)物點(diǎn)對(duì)應(yīng)像面上艾里斑之間的距離逐漸減小,艾里斑逐漸重疊,當(dāng)一個(gè)艾里斑的中央主極大值與另一艾里斑的第一極小值重疊時(shí),認(rèn)為是可分辨兩個(gè)艾里斑的最小距離,這個(gè)極限被稱(chēng)為瑞利判據(jù)(Rayleigh Criterion),如圖1所示。
?瑞利判據(jù)圖示
可分別得出對(duì)應(yīng)的橫向分辨率計(jì)算公式:
其中,λ 代表成像光的波長(zhǎng),NA為使用的物鏡的數(shù)值孔徑。
分辨率大小的評(píng)判較為主觀,常用的分辨率大小計(jì)算判據(jù)除了經(jīng)典的瑞利判據(jù)以外,還有兩種常見(jiàn)判據(jù):阿貝(Abbe)判據(jù)和斯派羅(Sparrow)判據(jù)。
其中阿貝判據(jù)對(duì)應(yīng)的分辨率定義為:
橫向分辨率:
軸向分辨率:
斯派羅判據(jù)對(duì)應(yīng)的分辨率定義如下:
在光學(xué)顯微系統(tǒng)中影響空間分辨率的主要因素是物鏡的數(shù)值孔徑,但是分辨率還取決于樣本種類(lèi),照明的相干性,像差校正的程度以及其他因素。
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